高周波トランスのコアを検出するにはどうすればよいですか?

高周波トランスのコアを検出するにはどうすればよいですか?高周波トランスのコアを購入する人は、低品質の材料で作られたコアを購入することを恐れています。では、コアはどのように検出すればよいのでしょうか?これには、コアのいくつかの検出方法を理解する必要があります。高周波トランス.

高周波トランスのコアを理解したい場合は、コアにどのような材料が一般的に使用されているかを知る必要もあります。興味があれば調べてみてください。いろいろな種類がたくさんありますが、軟磁性磁気特性を測定するために使用される材料。これらはさまざまな方法で使用されるため、測定する必要がある複雑なパラメータが多数あります。磁気特性を測定する上で最も重要な部分である各パラメータには、さまざまな測定方法と測定方法があります。

 

直流磁気特性の測定

軟磁性材料が異なれば、材料に応じて異なる試験要件があります。電気純鉄や珪素鋼では、標準磁界強度（B5、B10、B20、B50、B100など）における振幅磁気誘導強度Bm、最大透磁率μm、保磁力Hcが主に測定されます。パーマロイとアモルファスマッチの場合、初透磁率μi、最大透磁率μm、Bs、Brを測定します。その間ソフトフェライト材料では、μi、μm、Bs、Br なども測定されます。明らかに、閉回路条件下でこれらのパラメータを測定しようとすると、これらの材料をどの程度適切に使用するかを制御できます (一部の材料は開回路法でテストされます)。最も一般的な方法は次のとおりです。

 

(A) 衝撃方法:

ケイ素鋼にはエプスタイン角リングが使用され、純鉄棒、弱磁性材料、アモルファスストリップはソレノイドで検査でき、閉回路磁気リングに加工できるその他のサンプルも検査できます。試験サンプルは厳密に消磁して中立状態にする必要があります。整流 DC 電源と衝撃検流計を使用して、各テスト ポイントを記録します。 Bi と Hi を計算して座標用紙に描画することにより、対応する磁気特性パラメータが得られます。 1990 年代以前から広く使用されていました。作成されたインストゥルメントは、CC1、CC2、および CC4 です。このタイプの装置は、古典的なテスト方法、安定した信頼性の高いテスト、比較的安価な装置価格、および簡単なメンテナンスを備えています。欠点は、テスターの要件が非常に高いこと、ポイントごとのテストの作業が非常に困難であること、速度が遅いこと、パルスの非瞬間的な時間誤差を克服することが難しいことです。

 

(B) 保磁力計法:

純鉄棒に特化した測定方法で、素材のHcjパラメータのみを測定します。実験都市はまずサンプルを飽和させ、次に磁場を反転させます。特定の磁場の下では、鋳造コイルまたはサンプルがソレノイドから引き離されます。このとき外部衝撃検流計にたわみがなければ、対応する逆磁場が試料のHcjとなります。この測定方法は、材料の Hcj を非常に良好に測定でき、設備投資が少なく実用的で、材料の形状の要件もありません。

 

(C) DC ヒステリシス ループ計測法:

試験原理は永久磁石材料のヒステリシスループの測定原理と同じです。主に積分器では、光電増幅相互インダクタ積分、抵抗・容量積分、Vf変換積分、電子サンプリング積分など、さまざまな形式を採用することができます。国内設備には、上海シビアオ工場の CL1、CL6-1、CL13 が含まれます。海外の機器には、横河電機 3257、LDJ AMH401 などが含まれます。比較的、海外のインテグレータは国内のものに比べてレベルが高く、B 速度フィードバックの制御精度も非常に高いです。この方法はテスト速度が速く、直感的な結果が得られ、使いやすいです。欠点は、μi と μm のテストデータが不正確であり、一般に 20% を超えることです。

 

(D) シミュレーション影響法:

これは現在、軟磁性 DC 特性をテストするための最良のテスト方法です。本質的には人工衝撃法のコンピュータシミュレーション手法です。この方法は、1990 年に中国計量学会と婁迪電子研究所によって共同開発されました。製品には、MATS-2000 磁性材料測定装置 (製造中止)、NIM-2000D 磁性材料測定装置 (計量研究所)、および TYU-2000D 軟磁性材料が含まれます。直流自動測定器（Tianyu Electronics）。この測定方法は、測定回路への回路の相互干渉を回避し、積分器ゼロ点のドリフトを効果的に抑制し、スキャニングテスト機能も備えています。

 

軟磁性材料の交流特性の測定方法

ACヒステリシスループの測定方法には、オシロスコープ法、強磁力計法、サンプリング法、過渡波形記憶法、コンピュータ制御によるAC磁化特性試験法などがあります。現在、中国におけるACヒステリシスループの測定方法は主にオシロスコープ法とコンピュータ制御によるAC磁化特性試験法です。オシロスコープ方式を使用する企業は主に、Dajie Ande、Yanqin Nano、Zhuhai Gerun などです。コンピュータ制御の交流磁化特性試験方法を使用する企業には、主に中国計量研究所と天宇電子があります。

 

(A) オシロスコープ法:

テスト周波数は20Hz〜1MHzで、動作周波数は広く、装置はシンプルで、操作は便利です。ただし、検査精度は低いです。テスト方法は、無誘導抵抗を使用して一次電流をサンプリングし、オシロスコープの X チャネルに接続し、RC 積分またはミラー積分後の Y チャネルを二次電圧信号に接続します。オシロスコープからBHカーブを直接観察できます。この方法は同一材料の比較測定に適しており、試験速度は速いですが、材料の磁気特性パラメータを正確に測定することはできません。さらに、積分定数と飽和磁気誘導は閉ループ制御されないため、BH 曲線上の対応するパラメータは材料の実際のデータを表すことができず、比較に使用できません。

 

(B) 強磁性機器法:

強磁性体測定器方式はベクトルメータ方式とも呼ばれ、国内のCL2型測定器などがあります。測定周波数は45Hz〜1000Hzです。装置の構造はシンプルで操作も比較的簡単ですが、記録できるのは通常の試験曲線のみです。設計原理では、位相感応整流を使用して電圧または電流の瞬時値とその 2 つの位相を測定し、レコーダーを使用して材料の BH 曲線を描画します。 Bt=U2au/4f*N2*S、Ht=Umax/l*f*M、ここで M は相互インダクタンスです。

 

(C) サンプリング方法:

サンプリング方式は、高速に変化する電圧信号をサンプリング変換回路により同一波形で変化速度が非常に遅い電圧信号に変換し、低速ADを用いてサンプリングする方式です。テストデータは正確ですが、テスト周波数が最大 20kHz であるため、磁性材料の高周波測定に適応するのは困難です。

 

(D) 交流磁化特性試験方法：

この方法はコンピュータの制御機能やソフトウェア処理機能を駆使して設計された測定方法であり、今後の製品開発の重要な方向性でもあります。この設計ではコンピュータとサンプリング ループを使用して閉ループ制御を行うため、測定全体を意のままに行うことができます。測定条件を入力すると自動的に測定が完了し、制御を自動化できます。測定機能も非常に強力で、軟磁性材料のすべてのパラメータをほぼ正確に測定できます。

 

 

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